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      FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案

      作者:至一科技 日期:2021-01-03 点击:2671
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      FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜隔振方案

      ArisMD300主动隔振系统


      背       景:应用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜成像检测,是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台。

      使用单位:厦门稀土材料研究所

      地      点:福建省厦门市集美区兑山西珩路258号

      仪器型号:FEI Apreo S LoVac

      隔振方案:ArisMD300主动隔振系统


      ARISMD300主动隔振台.jpg

      厦门稀土研究所赛默飞Spreo S SEM01.jpg

      FEI Apreo S LoVac场发射扫描电子显微镜ArisMD300主动隔振系统应用安装图

      成像测试:

      Spreo S SEM成像图01.jpg

      Spreo S SEM成像图02.png

      Apreo S 电镜扫描图像65万倍对比(安装ArisMD300前后)

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